安立 Anritsu MP2110A功能縮短測量時間

借助這款內(nèi)置 BERT 和采樣示波器的一體化儀器，可在顯示眼圖的同時立即捕獲測量結果。因此，一眼就能看到評估多通道光學模塊/裝置所需的全部測量結果，大大縮短了測量時間。

BERTWave MP2110A 可同時對 2 個通道執(zhí)行高速采樣，速率高達 250,000 采樣點/秒。另外，內(nèi)置的自動波罩余量測試功能只需約 5 秒就能捕獲 100 萬個 25 Gbit/s 信號樣本，與上一代儀器相比，眼圖分析時間大約縮短 65％。

QSFP28 100 Gbit/s（25 Gbit/s × 4 通道）測量條件下的眼圖分析時間比較

性能

BERTWave MP2110A 采樣示波器擁有測量 100 GbE 和 OTU4 等模塊以及光學模塊中光學裝置所需的全部性能。

• 帶寬
  光學：35 GHz (SMF)、25 GHz (MMF)
  電學：40 GHz
• 靈敏度：-15 dBm（典型值，SMF）
• O/E 噪聲：3.4 µW（典型值，SMF）
• 固有抖動：200 fs rms（典型值）。（使用高精度觸發(fā)選項）

寬帶 O/E 確保所捕獲的直接調(diào)制光學信號和長途通信光學模塊的特性比前幾代儀器更加準確。

而且，靈敏度高達 -15 dBm（典型值，SMF），在配備光開關等元件的測量系統(tǒng)中，即使這些元件可能導致信號衰減，也能測量 DUT 眼圖和波罩余量。另外，采樣示波器采樣器的噪聲為 3.4 µW（典型值，SMF），也可以安裝典型值為 200 fs rms 的高精度觸發(fā)選項。高性能確保測量準確，以提高生產(chǎn)線產(chǎn)量。

典型光學信號波形

在標準配置下，BERTWave MP2110A BERT 以 24.3 Gbit/s 至 28.2 Gbit/s 的比特率運行。此范圍可以選擇性地擴展，以支持 9.5 Gbit/s 至 14.2 Gbit/s 的比特率，從而能夠?qū)⑵溆糜诎?10 GbE 和 100 GbE 在內(nèi)的各種應用領域。

BERTWave MP2110A PPG 的數(shù)據(jù)抖動低至 600 fs rms（典型值），可準確地測量光學模塊、光學裝置等的特性。另外，25 mV（典型值）ED 支持對產(chǎn)生路徑傳輸損耗的低幅度信號執(zhí)行 BER 測量，從而有助于提高 DUT 產(chǎn)量。

25.78125 Gb/s 電氣回路波形（PRBS 31，幅度 200 mV，精密觸發(fā)器選件“開”）

多用途測量功能

支持的測量包括：0 電平、1 電平、SNR、眼圖閉合率、眼圖振幅、眼圖高度、眼圖寬度、抖動 p-p、抖動 RMS、消光比、上升時間、下降時間、占空比失真、平均功率、OMA 等。

測試很簡單，因為模板余量測試是自動執(zhí)行的。此外，模板余量測試僅需約 1 秒鐘，使得可在更短的時間里高速執(zhí)行合規(guī)性測量，從而提高了生產(chǎn)線的生產(chǎn)率。

• 1 秒內(nèi)自動測量
• 實時余量測量
• 模板可選計數(shù)與速率

利用組數(shù)據(jù)分布的平均值、 標準誤差和散布情況進行波形數(shù)據(jù)成分分析，使排除故障更輕松。

可將測得的波形數(shù)據(jù)保存下來供參考， 從而能夠?qū)斍暗臄?shù)據(jù)與之前的數(shù)據(jù)進行對比。

操作簡便

借助每個通道的同步功能，只需設置 BERTWave MP2110A 的一個通道即可同時設置所有通道；而且由于可以更改每個通道的測試模式，所以執(zhí)行有源光纜 (AOC) 和直接連接電纜 (DAC) 系統(tǒng)等多通道傳輸設備要求的串擾測試會變得容易。此外，支持多達 2 個通道的光學眼圖分析。
而且，MP2110A 保留了 BERTWave 系列所有型號設置簡單、界面易用的優(yōu)勢；向后兼容 MP2100B 的遠程命令，確保儀器升級毫無煩憂。另外，內(nèi)置 PC 帶來的穩(wěn)定運行確保在任何操作環(huán)境下都能獲得出色的性能。

以前的測量系統(tǒng)極其復雜，因為需要單獨使用 BERT 作為信號源，再使用采樣示波器執(zhí)行眼圖分析。集成了 BERT 和采樣示波器的一體化 BERTWave MP2110A 大地簡化了測量系統(tǒng)的配置。
由于 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器安裝在一個機柜內(nèi)，因此測量系統(tǒng)的配置和控制變得更加方便，能夠同時執(zhí)行多通道 QSFP28 等光學模塊和光學裝置的 Tx/Rx 測量。增加通道數(shù)可縮短多通道光學模塊和裝置的測量時間，否則各通道單獨測量可能需要較長的測量時間。